LAP-DW2000干濕一體激光粒度儀

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一、LAP-DW2000簡介：

LAP-DW2000是我公司傾力研發(fā)的新產(chǎn)品，自上市以來贏得了廣大客戶的*好評，LAP-DW2000采用*的Mie氏散射原理和匯聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法，保證了測試結(jié)果的準確性和重復(fù)性。*的濕法循環(huán)分散系統(tǒng)，保證顆粒保證測試過程中無顆粒沉積現(xiàn)象，測試完畢后無廢液積存設(shè)計，保證了下一次測試精度，使測試結(jié)果更真實可靠；干法分散采用力了直線噴射分散設(shè)計，樣品經(jīng)過高壓氣體分散后垂直向后方飛行，避免了待測小顆粒的二次團簇，同時采取了管道無殘留設(shè)計，保證了測試不同樣品的準確性。*的光路自動校對系統(tǒng)、干濕一鍵切換系統(tǒng)、干法電腦遠端控制喂料系統(tǒng)等精心設(shè)計彰顯出DW2000*優(yōu)勢。

二、適用范圍：

     LAP-DW2000廣泛應(yīng)用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、細胞、細菌、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿、鋁銀漿及其他粉狀物料粒度的測量。

三、LAP-DW2000主要性能特點：

*的光路設(shè)計：LAP-DW2000采用會聚光傅立葉變換測試技術(shù)，保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的高密度探測單元，讓DW2000擁有了*的小顆粒測試能力，高密度探測單元的使用讓DW2000具有*的全量程無縫測試能力。

干、濕一鍵切換：干濕切換將由儀器自動完成，全部過程10S內(nèi)完成。

主探測器Z向自動移動：干濕切換后因光學(xué)玻璃的介入會導(dǎo)致會聚光焦距變化，LAP-DW2000會根據(jù)干、濕法的不同自動調(diào)整主探測器，使主探測器始終在焦平面上（實現(xiàn)光路三維自動校對）。

防塵、防震設(shè)計：儀器整體進行了密封設(shè)計，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動對儀器的干擾，使測試結(jié)果更穩(wěn)定可靠。

強防腐設(shè)計（選配）：根據(jù)客戶實際需求可以配備耐酸、耐堿、耐油（含一切溶劑油）、耐有機溶劑（像丙酮、苯酚、正己烷等一切有機溶劑）。

進口氦-氖激光器：LAP-DW2000采用了高穩(wěn)定、長壽命的進口氦-氖激光器，優(yōu)良的單色性及穩(wěn)定性讓DW2000擁有了*的測試重復(fù)性（標配為國產(chǎn)）。

光路自動校對：自動對焦系統(tǒng)，儀器可自動校對光路。

*微量循環(huán)系統(tǒng)：整個分散循環(huán)系統(tǒng)進行了優(yōu)化設(shè)計，分散介質(zhì)大于150毫升即可循環(huán)測試，真正達到了微量循環(huán)測試；優(yōu)化的設(shè)計保證排水后無廢液殘留，保證了下一次測試結(jié)果的準確性。

超寬量程：LAP-DW2000量程達到了0.1μm～2000μm。

免排氣泡設(shè)計：全新的設(shè)計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡干擾。

樣品無殘留設(shè)計：儀器管道及排水結(jié)構(gòu)進行了優(yōu)化設(shè)計，儀器管道、循環(huán)泵內(nèi)無積液殘留，避免對下一次測試數(shù)據(jù)的影響；干法測試同樣進行了無殘留設(shè)計。

干法計算機遠程控制喂料：LAP-DW2000干法測試時測試人員可通過電腦遠端控制喂料速度，大大減少了測試人員的勞動強度。

樣品窗快換裝置：全新設(shè)計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷。

四、主要技術(shù)參數(shù)：